集成电路温度冲击试验箱产品详情：
一、高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃ 低温区部分：-10℃至-55℃。
二、温度测试范围：高 温：+60℃至+150℃。低 温：0℃至-40℃。
三、控制：+(-)2℃。
四、解析：0.01℃。
五、高温区升温时间：自常温至150℃，约60分钟。
六、低温区降温时间：自常温至 -40℃，约80分钟。
七、测试区温度恢复时间：3-5分钟。
集成电路温度冲击试验箱机器结构与材质：
1.结 构：分为高温区、低温区、测试区。
2.内部尺寸：50cm(w)×40cm(h)×40cm(d)
3.外部尺寸：根椐实际设计定
4.内外箱材质：sus＃304耐热耐寒不锈钢板，光面板。
5.保温材质：高密度玻璃棉及高强度pu发泡绝缘材料。
6.防汗机件：以系统k型管之热能作防汗处理。
7.附属设备：
a.耐寒耐热之高张性迫紧（packing），可耐温400℃及低温-200℃
b.高低温自动转换设备乙套c.附可调式话动盘二只九
集成电路温度冲击试验箱冷冻系统及加热系统：
1.采原装欧美进品效率压缩机。
2.配有自动及手动除霜回路。
3.斜率式fin—tube蒸发器，可迅速达到低温效果。
4.原装进口日制电磁阀、干燥过滤器等冷冻组件。
5.内螺旋式k—type冷媒铜管。
6.高速电热管。
7.采用气冷式冷凝器，或因现场环境因素用水冷式冷凝器。8.采用环保冷媒。9.其它附件修理阀，电子自动转换膨胀阀及电磁开关等。
集成电路温度冲击试验箱送风循环系统及排水系统：
1. 采日制多翼离心式循环风扇，日制马达整组。
2. 送风方式，水平扩散垂直热交换弧形循环。
3. 排水系统采回涡形排水口及u—type积沈装置。
4. 多片翼式扇叶温场效应分布均匀。
5. stain less加长轴心风量适当
集成电路温度冲击试验箱功能简介：
集成电路温度冲击试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式。广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。