航天高低温冲击试验箱适用于仪器仪表、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、产品及其他相关产品零部件在高温、低温、湿热的环境下贮存、运输、使用时的适应性。高低温老化箱主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求，在高温、低温、湿热、条件下对产品的物理以及其它相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
航天高低温冲击试验箱规格：
测试区尺寸：60㎝×50㎝×50㎝(W×H×D)。大小 可订制
外箱尺寸：以实际尺寸为准㎝(W×H×D)。
高低温区温度范围：
高温区部分：60℃ ～ 200℃。
低温区部分：－10℃ ～ －70℃。
测试范围：高溫冲击：60℃～150℃。低溫冲击：－10℃～－55℃。
升降温速率：
蓄热区升温时间：自常温至200℃,约40分钟。
蓄冷区降温时间：自常温至-65℃,约75分钟。
测试区温度转换时间：≤15秒钟。
测试区温度恢复时间：≤5分钟（-40℃到85℃）。
仪表解析：
温度：0.01℃。
仪表控制：
温度：±0.5℃。
温度：≤±0.5℃。
温度均匀度：≤2℃。
温度偏差：≤±2℃。
航天高低温冲击试验箱执行标准：
GB10586-2006湿热试验箱技术条件
GB10589-2006双85湿冷冻试验箱技术条件
GB10592-2006双85湿冷冻试验箱技术条件
GB11158-2006高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001试验A：低温试验方法
GB/T2423.2-2001试验B：高温试验方法
GB/T2423.3-1993试验Ca:恒定湿热试验
GB/T5170.2-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备
GB/T5170.5-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备
