艾思荔集成电路hast老化试验箱又称为高压加速老化试验箱，实验室光源曝露试验因为可以在一个集成电路hast老化试验箱中同时模拟大气可见环境中的光、氧、热和降雨等因素，是目前较为常用的一种人工加速老化试验方法，在这些模拟因素中，又以光源为重要。经验表明，阳光中引起高分子材料破环的波长主要集中在紫外线及部分可见光。
集成电路hast老化试验箱性能：
1.测试环境条件4.2. 测试方法 环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、
2. 温度范围 105℃ → +132℃. (控制点)
3. 温度波动度 ±0.5℃.
4. 温度偏差 ±2.0℃.
5. 湿度范围 75% ～ 100 %R.H . (控制点)
6. 湿度波动度 ±2.5 %R.H.
7. 湿度均匀度 ±5.0%.
8. 压力范围 0.5～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) (控制点)
9. 升温时间 常温 → + 132℃ 35 min .
10. 升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 40 min
集成电路hast老化试验箱特性：
1、试验过程自动运转至完成结束、使用简便。
2、双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。
3、LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示，PID控制误差±0.1℃。
4、LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
5、Jing准的压力、温度对照显示。
6、运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到佳蒸汽质量。
7、试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能，试验不中断，确保使用安全。
8、锅内安全装置，锅门若未关紧则机器无法启动。
9、安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10、门盖保护，ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。
11、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
集成电路hast老化试验箱针对人工加速老化试验条件的选择：
目前使用集成电路hast老化试验箱的人工光源都力图使在此波长区间内的能谱分布曲线与太阳光谱接近，模拟性和加速倍率是选择人工光源的主要依据。这个问题实际上可以理解为应该模拟哪些老化因素，高分子材料在使用过程中，气候环境里许多因素都有可能对高分子材料的老化产生作用。如果事先知道产生老化的主要因素，就可以有针对性的选择试验方法。我们可以从该材料的运输、储存、使用环境以及其老化机理等方面考虑，确定试验方法。例如硬聚氯乙烯型材，使用聚氯乙烯为原料，添加稳定剂、颜料等助剂加工而成，主要用于室外。从聚氯乙烯的老化机理考虑，聚氯乙烯受热易分解;从使用环境考虑;空气中的氧、紫外光、热、水分都是引起型材老化的原因。